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注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
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online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級STS 。 操作簡單,可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。
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在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產(chǎn)線上,實(shí)現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量。 LIVE實(shí)時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點(diǎn)發(fā)出警報。實(shí)時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應(yīng)器來擴(kuò)展測量的寬度。
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online雙折射測量儀KAMAKIRI W 適用于薄膜等生產(chǎn)線上,實(shí)現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量 LIVE實(shí)時輸出雙折射的信息 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點(diǎn)發(fā)出警報 操作簡單,可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布 實(shí)時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。 可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應(yīng)器來擴(kuò)展測量的寬度。
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歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應(yīng)力測量設(shè)備,其高速相機(jī)CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合,研制在線雙折射/殘余應(yīng)力測量儀,世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供,廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領(lǐng)域。
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