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相位差、雙折射、內應力測量設備

點擊次數(shù):2449 發(fā)布時間:2018/6/4
提 供 商: 北京歐屹科技有限公司 資料大?。?/td>
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           北京歐屹科技代理的日本PHL公司的雙折射測量設備,是由日本東北大學電器研究室與井上研究室共同開發(fā)的光子晶體技術,進而轉化出來的對透明鍵產品內部應力測量的一款設備,利用光子晶體與CCD相機的結合,產生的偏光感應器,可以在3秒的時間得到被測樣品整個面的內部應力的分布的情況。

 
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